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铁电薄膜存储器存储特性测试仪的研制

专 业: 电路与系统
关键词: 铁电薄膜 铁电薄膜存储器 测试
分类号: TM93  TP333.1
形 态: 共 57 页 约 37,335 个字 约 1.786 M内容
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内容摘要


铁电薄膜存储器具有开关速度快,工作电压低,存储密度高,工作温度范围 大,耐辐射和非挥发性等优点。

因此对铁电薄膜存储器FRAM的开发和研究引起了世界范围的关注铁电薄膜具有记忆特性是国为铁电体具有电滞回线,因此,直接测试铁电薄膜双向极化后剩余极化的差别,是其它性能测试不能替代的。

作者研究设计了铁电薄膜存储器存储特性测试仪,用于铁电薄膜的主要性能指标的检测。

实际应用表明,该仪有够对铁电薄膜存储器进行各种读/写操作。

利用它对Au/BIT/PLZT/BIT/n-Si铁电薄膜进行性能测试,发现其具有 记忆特性和非挥发性。

这些实验结果证明了,作者设计的铁电薄膜存储器存储性能测试仪对铁电薄膜存储器的研究是具有实际意义的工具……

全文目录


文摘
英文文摘
铁电薄膜存储特性测试仪图片
第一章 、绪论
1-1引言
1-2铁电薄膜
1-3铁电薄膜存储器
1-4目前铁电薄膜存储器的研究概况及研究铁电薄膜存储器的意义
1-5铁电薄膜存储器记忆特性测试的必要性
第二章 、铁电薄膜存储器的工作原理
2-1铁电体的自发极化反转
2-2铁电薄膜存储器的工作原理
2-3铁电薄膜存储器的结构特点
2-4铁电薄膜存储器的性能特点
第三章 、铁电薄膜存储器的测量原理
3-1铁电薄膜存储器非挥发性记忆的操作和检测的物理原理
3-2铁电薄膜存储器的测试原理
第四章 、铁电薄膜存储器存储特性测试仪的构造
4-1铁电薄膜存储器存储特性测试仪总的技术要求
4-2测试仪的基本构造
4-3逻辑信号电路
4-4强驱动输出电路
4-5电源电路
4-6信号检测、整形电路
第五章 、实际应用及结论
5-1铁电薄膜存储器存储特性测试仪的性能检测
5-2实际测量铁电薄膜样品
5-3结论
参考文献

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中图分类: > TM93 > 工业技术 > 电工技术 > 电气测量技术及仪器
其他分类: > TP333.1 > 工业技术 > 自动化技术、计算机技术 > 计算技术、计算机技术 > 电子数字计算机(不连续作用电子计算机) > 存贮器

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